থার্মোইলেক্ট্রিক পারফরম্যান্সের জন্য পরীক্ষিত থার্মোইলেকট্রিক ডিভাইসগুলি সাধারণত এক প্রান্তে উত্তপ্ত হয় এবং অন্য প্রান্তে ঠান্ডা হয় এবং ডিভাইসের দুই প্রান্তের মধ্যে একটি স্থিতিশীল তাপমাত্রার পার্থক্য প্রতিষ্ঠিত হয়। তারপর, ওপেন সার্কিট ভোল্টেজ voc, আউটপুট পাওয়ার P এবং থার্মোইলেকট্রিক রূপান্তর দক্ষতা বিভিন্ন লোড প্রতিরোধকের সাথে সংযুক্ত হলে পরিমাপ করা হয়। তারপরে, তাপমাত্রার পার্থক্যের অধীনে বৃহৎ আউটপুট পাওয়ার pmax এবং বৃহৎ রূপান্তর দক্ষতা সর্বাধিক বিশ্লেষণ করা হয়।
বিদ্যমান থার্মোইলেক্ট্রিক পারফরম্যান্স টেস্ট সিস্টেম এবং পরিমাপ পদ্ধতিগুলির নিম্নলিখিত ত্রুটিগুলি রয়েছে:
(1) তাপবিদ্যুৎ যন্ত্রের রূপান্তর দক্ষতা তাপবিদ্যুৎ যন্ত্রের উচ্চ তাপমাত্রার প্রান্তে প্রবাহিত তাপ প্রবাহ qh এবং তাপবিদ্যুৎ যন্ত্রের আউটপুট শক্তি P দ্বারা নির্ধারিত হয় এবং গণনার সূত্র হল =p/qh . বিদ্যমান পদ্ধতি তাপ উৎসের বিভিন্ন অবস্থানের মধ্যে তাপমাত্রার পার্থক্য পরিমাপ করে তাপ প্রবাহ qh গণনা করে। এই পদ্ধতিতে তাপ উৎসের উপাদানের তাপ পরিবাহিতা পরিমাপ করার জন্য অতিরিক্ত ক্রমাঙ্কনের প্রয়োজন হয় এবং তাপ উৎস এবং পরিবেশের মধ্যে পরিবাহী তাপ স্থানান্তর এবং বিকিরণ তাপ স্থানান্তরের কারণে তাপের ক্ষতির সঠিকভাবে মূল্যায়ন করা কঠিন, যা ত্রুটিগুলি প্রবর্তন করবে এবং তাপ পরিবাহিত করবে। গণনা করা থার্মোইলেকট্রিক রূপান্তর দক্ষতা কম।
(2) প্রদত্ত তাপমাত্রার পার্থক্যে থার্মোইলেকট্রিক ডিভাইসের বৃহৎ আউটপুট পাওয়ার pmax এবং বৃহৎ রূপান্তর দক্ষতা সর্বাধিক পাওয়ার জন্য, বিভিন্ন লোড প্রতিরোধের অধীনে লোডের মধ্য দিয়ে প্রবাহিত কারেন্ট এবং ভোল্টেজ এবং বড় আউটপুট শক্তি পরিমাপ করা প্রয়োজন। থার্মোইলেকট্রিক ডিভাইসের pmax এবং সংশ্লিষ্ট বৃহৎ রূপান্তর দক্ষতা সর্বাধিক ফিটিং এবং সমাধান করে প্রাপ্ত করা যেতে পারে।
যাইহোক, পেল্টিয়ার প্রভাবের কারণে, যখন থার্মোইলেকট্রিক ডিভাইসটি কারেন্ট আউটপুট করে, তখন ডিভাইসের গরম প্রান্তটি তাপ শোষণ করে এবং ঠান্ডা প্রান্তটি তাপ ছেড়ে দেয় এবং আউটপুট কারেন্ট বৃদ্ধির সাথে এই প্রভাবটি আরও তাৎপর্যপূর্ণ হয়ে ওঠে, যার ফলে তাপবিদ্যুৎ ডিভাইস গরম শেষ তাপমাত্রা হ্রাস, ঠান্ডা শেষ তাপমাত্রা বৃদ্ধি, যার ফলে ডিভাইসের দুই প্রান্তের মধ্যে তাপমাত্রা পার্থক্য হ্রাস. সরাসরি পরিমাপ করা হলে, বড় আউটপুট পাওয়ার pmax এবং বড় রূপান্তর দক্ষতা সর্বাধিক কম হবে।
অতএব, থার্মোইলেকট্রিক পারফরম্যান্স টেস্ট সিস্টেম এবং পরীক্ষা পদ্ধতি বিদ্যমান থার্মোইলেকট্রিক ডিভাইসের পারফরম্যান্স টেস্ট সিস্টেমের সমস্যাগুলি সমাধান করতে পারে এবং পরীক্ষার পদ্ধতিটি সঠিক নয় এবং পরিমাপের ত্রুটিটি বড়।
থার্মোইলেকট্রিক পারফরম্যান্স পরীক্ষায় একটি চাপ বন্ধনী, হিটিং ব্লক এবং থার্মোইলেকট্রিক ডিভাইসের গরম প্রান্তকে গরম করতে এবং থার্মোইলেকট্রিক ডিভাইসের ঠান্ডা প্রান্তকে ঠান্ডা করার জন্য বন্ধনীতে ইনস্টল করা কুলিং ব্লক অন্তর্ভুক্ত থাকে। পরীক্ষা পদ্ধতিতে একটি পরীক্ষা সার্কিটও রয়েছে। পরীক্ষার সার্কিটে একটি বৈদ্যুতিক লোড রয়েছে যা থার্মোইলেকট্রিক ডিভাইসের আউটপুট ইলেক্ট্রোডের সাথে বৈদ্যুতিকভাবে সংযুক্ত এবং তাৎক্ষণিকভাবে প্রতিরোধের মান সামঞ্জস্য করতে সক্ষম; পরীক্ষার সার্কিট তাত্ক্ষণিকভাবে ইলেকট্রনিক লোডের প্রতিরোধের মানকে সামঞ্জস্য করে, এবং বিভিন্ন প্রতিরোধের মানগুলির অধীনে তাপবিদ্যুৎ ডিভাইসের আউটপুট বর্তমান মান এবং ভোল্টেজের মান পরিমাপ করে, যাতে তাপবিদ্যুৎ ডিভাইসের পাওয়ার জেনারেশন পারফরম্যান্স পরামিতিগুলি পাওয়া যায়। উপরন্তু, পরীক্ষা সিস্টেম অন্তরণ ব্লক অন্তর্ভুক্ত; হিটিং ব্লকটি ইনসুলেশন ব্লকে এম্বেড করা হয় এবং হিটিং ব্লকের একপাশ থার্মোইলেকট্রিক ডিভাইসের গরম প্রান্তের সাথে যোগাযোগের জন্য সংরক্ষিত থাকে, যাতে হিটিং ব্লকের তাপ প্রবাহ তাপবিদ্যুৎ ডিভাইসে প্রবাহিত হয়; পরীক্ষার সময়, নিরোধক ব্লকের তাপমাত্রা সেটিং হিটিং ব্লকের তাপমাত্রার সাথে মেলে এবং হিটিং ব্লকের পৃষ্ঠের তাপের ক্ষতি দূর হয়। পরীক্ষার সার্কিট কম্পিউটার সরঞ্জামের সাথে সংযুক্ত।